鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
鍍層測厚儀特點
實用特點一：0.5秒就可以無損測量出涂層以及鍍層的厚度。并且自動識別測量的基材。
實用特點二：市面上的鍍層測厚儀，在使用時都是需要校準(zhǔn)的，但林上的鍍層測厚儀LS223，無需校準(zhǔn)，只需凋零，儀器調(diào)零完畢后即可開始測量。
實用特點三：儀器只有一個按鍵，省去繁瑣操作，測量更加的簡單。
實用特點四：測頭采用真正的紅寶石，非常的耐磨和耐腐蝕，可以保證鍍層測厚儀LS223長久有效的使用。
實用特點五：探頭采用了的數(shù)字探頭，這種探頭不容易收到干擾，而且還提供優(yōu)良的測試精度，即使溫度變化也不受影響。
實用特點六：有F3N3探頭和F5N3探頭可選擇F5N3探頭的量程范圍是5mm，F(xiàn)3N3探頭的量程范圍是3mm。鐵鋁兩用，特別適用于大厚度的涂層檢測。

鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應(yīng)測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度?？梢詿o損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應(yīng)用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結(jié)構(gòu)、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產(chǎn)現(xiàn)場的質(zhì)量管控。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進(jìn)行簡單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后，可以把有標(biāo)準(zhǔn)值的測試片放在調(diào)零板上測量。測量的數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)測試片的誤差范圍之內(nèi)，則說明儀器可以正常使用了。

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