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半導體鍍層分析儀 自動休眠 自動譜線識別
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產(chǎn)品描述

檢測對象固體,液體,粉末狀 分析時間60s(可調(diào)) 操作難度 應用領(lǐng)域進出口產(chǎn)品ROHS測試 外觀灰白色 環(huán)境使用要求無震動及腐蝕實驗室 耗材 可出售地全國 額外設(shè)備有配備電腦主機 可售賣地全國 顯示方式微米 測量范圍硫~鈾
鍍層測厚儀關(guān)鍵有以下主要優(yōu)點: 
1、測量速度快,具有單次和連續(xù)2種測量方式可選擇。
2、精度高 ,自動記憶校準值和自動識別被測基體的材質(zhì)。
3、鍍層測厚儀穩(wěn)定性高,操作測量時會有蜂鳴器提示音和連續(xù)測量時蜂鳴器不發(fā)聲提示。
4、 功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文測量方法。
覆層厚度的測量方法關(guān)鍵有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
鍍層測厚儀有兩種開機使用方法。一種是探頭在測試過程中自動觸發(fā)開機,并且直接顯示出測量結(jié)果。這是因為采用了數(shù)字探頭,非常的靈敏,會自動識別出測量基材,并且自動轉(zhuǎn)換。
還有一種是按鍵開機。開機儀器會顯示探頭型號,兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。
半導體鍍層分析儀
鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結(jié)構(gòu)、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產(chǎn)現(xiàn)場的質(zhì)量管控。
半導體鍍層分析儀
鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差,可以進行簡單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法:
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置,保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵,屏幕會提示壓緊探頭,再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后,可以把有標準值的測試片放在調(diào)零板上測量。測量的數(shù)值與標準測試片的誤差范圍之內(nèi),則說明儀器可以正常使用了。
半導體鍍層分析儀
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產(chǎn)品推薦

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

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