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  • 半導體鍍層分析儀 測量速度快 自動譜線識別
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產品描述

分析時間60s(可調) 環(huán)境溫度15-30℃ 儀器尺寸550mm*416mm*333mm 產地江蘇昆山 額外設備有配備電腦主機

鍍層測厚儀要求

1、不破壞的測量下具高精密度。

2、小的測定面積。

3、中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響。

4、同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜。

5、同時測量雙合金的鍍膜厚及成份。


鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度??梢詿o損的測量出涂鍍層的厚度。

廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產現(xiàn)場的質量管控。


半導體鍍層分析儀

鍍層測厚儀有兩種開機使用方法。一種是探頭在測試過程中自動觸發(fā)開機,并且直接顯示出測量結果。這是因為采用了數(shù)字探頭,非常的靈敏,會自動識別出測量基材,并且自動轉換。

還有一種是按鍵開機。開機儀器會顯示探頭型號,兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。


半導體鍍層分析儀

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差,可以進行簡單的調零。用附送的鋁或者鐵調零板調零即可。調零方法:

1、將探頭垂直按壓在調零板中間的位置,保持探頭的穩(wěn)定。

2、按下按鍵,屏幕會提示壓緊探頭,再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。

3、屏幕顯示0.0則調零完畢。

4、完成后,可以把有標準值的測試片放在調零板上測量。測量的數(shù)值與標準測試片的誤差范圍之內,則說明儀器可以正常使用了。


半導體鍍層分析儀

我們本著“以信為天,以誠為本”的經營理念為宗旨,用熱忱、優(yōu)良的服務,讓顧客滿意。堅守“以人為本、以誠取信、以質取勝、以新爭天下”的質量方針和“正正直直做人,踏踏實實做事”的企業(yè)精神。


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